Ukrainian
Summary:У книзі викладено основи кристалооптики, фотопружності та пружності анізотропних матеріалів, описано класичні й нові поляризаційно-оптичні та інтерферометричні методи вивчення фотопружних ефектів; вагома частина книги присвячена теоретичному опису зміни оптичних властивостей кристалів за дії нормальних і зсувних компонент тензора механічних напружень із врахуванням пружності зразків та неоднозначності вивчення фотопружності залежно від способу вибору правої системи координат. Проведено аналіз експериментальних даних, у т.ч. методом вказівних поверхонь, які найбільш повно описують просторову анізотропію ефектів фотопружності. Для сегнетоелектриків описано механізми температурних аномалій тих фотопружних ефектів, які зумовлюють зміни показників заломлення, двозаломлення, різниці ходу, кута між оптичними осями, поворотів оптичної індикатриси та площини поляризації світлової хвилі. Ці механізми застосовано також для опису аномалій пружних та п’єзоелектричних коефіцієнтів.
Reading audience:Для фахівців у галузях фізики твердого тіла, оптоелектроніки, інтерферометрії, акустооптики та оптичного приладобудування
Russian
Summary:В книге изложены основы кристаллооптики, фотоупругости и упругости анизотропных материалов, описаны классические и новые поляризационно-оптические и интерферометрические методы изучения фотоупругих эффектов; значительная часть книги посвящена теоретическому описанию изменения оптических свойств кристаллов при действии нормальных и сдвиговых компонентов тензора механических напряжений с учетом упругости образцов и неоднозначности изучения фотоупругости в зависимости от способа выбора правой системы координат. Проведен анализ экспериментальных данных, в т.ч. методом указательных поверхностей, которые наиболее полно описывают пространственную анизотропию эффектов фотоупругости. Для сегнетоэлектриков описаны механизмы температурных аномалий тех фотоупругих эффектов, обусловливающих изменения показателей преломления, двупреломление, разности хода, угла между оптическими осями, поворотов оптической индикатрисы и плоскости поляризации световой волны. Эти механизмы применены также для описания аномалий упругих и пьезоэлектрических коэффициентов.
Reading audience:Для специалистов в области физики твердого тела, оптоэлектроники, интерферометрии, акустооптики и оптического приборостроения.