Ukrainian
Summary:Книгу присвячено прикладним аспектам методів рентгенівської та електронної спектроскопії для дослідження твердого тіла та невпорядкованих систем. Викладено основи теорії взаємодії випромінення з речовиною; приведено класифікацію методів дослідження в залежності від процесів взаємодії випромінення з речовиною; містяться фізичні основи методів дослідження, що базуються на зовнішньому фотоефекті – рентгенівської фотоелектронної спектроскопії та ультрафіолетової фотоелектронної спектроскопії. Викладено основи рентгенівської емісійної спектроскопії та електронної оже–спектроскопії. Приводяться фізичні основи сучасних методів дослідження невпорядкованих систем – EXAFS- та XANES-спектроскопії. Окреслено перспективи застосування методів спектроскопії рентгенівського резонансного та нерезонансного розсіювання. Описано теоретичні основи та особливості сучасного аналітичного методу незбудженого стану – сканувальної тунельної спектроскопії.
Reading audience:Для спеціалістів в галузі спектроскопії та студентів старших курсів вищої школи.
Russian
Summary:Книга посвящена прикладным аспектам методов рентгеновской и электронной спектроскопии при исследовании твердого тела и неупорядоченных систем. Изложены основы теории взаимодействия излучения с веществом; приведена классификация методов исследования в зависимости от процессов взаимодействия излучения с веществом; содержатся физические основы методов исследования, базирующихся на внешнем фотоэффекте – рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии. Изложены основы рентгеновской эмиссионной спектроскопии и электронной оже–спектроскопии. Приводятся физические основы современных методов исследования неупорядоченных систем – EXAFS- и XANES-спектроскопии. Очерчены перспективы применения методов спектроскопии рентгеновского резонансного и нерезонансного рассеяния. Описаны теоретические основы и особенности современного аналитического метода невозбужденного состояния – сканирующей туннельной спектроскопии.
Reading audience:Для специалистов в области спектроскопии конденсированных систем и студентов старших курсов высшей школы.